涂層測(cè)厚儀影響測(cè)量精度的詳細(xì)原因分析

涂層測(cè)厚儀影響測(cè)量精度的詳細(xì)原因分析
1) 基體金屬的導(dǎo)磁率和電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響； 可直接用未涂(鍍)的被測(cè)零件或去除涂(鍍)層的被測(cè)零件作為基板進(jìn)行校準(zhǔn)，可消除影響;
2) 任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有超過這個(gè)厚度,測(cè)量值才不會(huì)受到基體金屬厚度的影響；*好可直接用小于臨界厚度的被測(cè)零件作為基板進(jìn)行校準(zhǔn)，可消除影響;
3) 測(cè)厚儀對(duì)工件測(cè)定存在邊緣效應(yīng),即對(duì)工件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的；若想得到正確厚度值，可直接在被測(cè)位子進(jìn)行校準(zhǔn)，可減少影響;
4) 試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大; 可直接在被測(cè)位子進(jìn)行校準(zhǔn)，可減少影響;
5) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度,粗糙度增大,影響增大;
6) 測(cè)厚儀對(duì)妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此測(cè)量前應(yīng)**測(cè)頭和覆蓋層表面的污物;測(cè)量時(shí)應(yīng)使測(cè)頭與測(cè)試表面保持恒壓垂直接觸。