涂層測(cè)厚儀影響測(cè)量的因素

涂層測(cè)厚儀影響測(cè)量的因素
1.基體金屬磁化：磁性法測(cè)量受基體金屬磁性變革的影響（在現(xiàn)實(shí)應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變革可以以為是輕細(xì)的）。為了制止熱處置處罰、冷加工等因素的影響，應(yīng)利用與鍍件金屬具有雷同性子的鐵基片上 對(duì)儀器舉行校對(duì)。
2.基體金屬厚度：每一種儀器都有一個(gè)基本的基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體厚度的影響。
3.邊沿效應(yīng)：本儀器對(duì)試片外貌形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊沿或內(nèi)轉(zhuǎn)角處舉行測(cè)量是不行靠的。
4.曲率：試件的曲率也會(huì)對(duì)測(cè)量精度有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小顯著增大。因此不該在試件凌駕容許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
5.粗糙度：基體金屬和外貌粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大。粗糙外貌會(huì)引起體系偏差和偶爾偏差。每次測(cè)量時(shí)，在差別位置上適當(dāng)增加測(cè)量的次數(shù)，可以降低這種偶爾出現(xiàn)的偏差。
要是基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙相雷同的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用沒(méi)有腐化性的溶液撤除在基體金屬上的籠罩層，再校對(duì)儀器零點(diǎn)。