文章詳情
涂層測(cè)厚儀試片和磁場(chǎng)對(duì)厚度的影響
日期：2024-11-24 07:52
瀏覽次數(shù)：1256
摘要：
涂層測(cè)厚儀試片和磁場(chǎng)對(duì)厚度的影響
試片
1、邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
2、曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
3、試片的變形
探頭會(huì)使軟覆蓋層試件產(chǎn)生變形現(xiàn)象，因此在這些試件上測(cè)量會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。
試片
1、邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試片表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試片邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
2、曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響是隨著曲率半徑減小明顯增大。因此不應(yīng)在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面上測(cè)量。
3、試片的變形
探頭會(huì)使軟覆蓋層試件產(chǎn)生變形現(xiàn)象，因此在這些試件上測(cè)量會(huì)出現(xiàn)不太可靠的數(shù)據(jù)。
磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性測(cè)量厚度的工作。應(yīng)避免在強(qiáng)磁場(chǎng)或強(qiáng)電場(chǎng)附近使用本儀器，否則儀器會(huì)顯示未知的數(shù)據(jù)，或者無(wú)法正常工作。